1.測試準(zhǔn)備
確保測試設(shè)備(如電源、示波器、測試儀等)準(zhǔn)確校準(zhǔn)。
準(zhǔn)備測試電路,包括待測IGBT、驅(qū)動(dòng)電路、保護(hù)電路等。
確認(rèn)IGBT的型號(hào)和參數(shù)。
2.主要測試參數(shù)
VGE(th):門極閾值電壓,即IGBT開始導(dǎo)通時(shí)的門極電壓。
VCE(sat):飽和壓降,即IGBT導(dǎo)通時(shí)集電極和發(fā)射極之間的壓降。
ICES:集電極-發(fā)射極漏電流,即在門極電壓為零時(shí),集電極和發(fā)射極之間的漏電流。
IGES:門極-發(fā)射極漏電流,即在集電極和發(fā)射極之間施加額定電壓時(shí),門極和發(fā)射極之間的漏電流。
td(on):開通延遲時(shí)間,即從門極電壓達(dá)到額定值到集電極電流達(dá)到其10%所需的時(shí)間。
td(off):關(guān)斷延遲時(shí)間,即從門極電壓下降到額定值到集電極電流下降到其90%所需的時(shí)間。
3.測試步驟
測量VGE(th):
在集電極和發(fā)射極之間施加一個(gè)固定的偏置電壓。
逐漸增加門極電壓,測量集電極電流。
找到集電極電流開始明顯上升的門極電壓值,即為VGE(th)。
測量VCE(sat)和ICES:
在門極和發(fā)射極之間施加一個(gè)固定的驅(qū)動(dòng)電壓。
增加集電極電流至額定值,測量此時(shí)的VCE(sat)。
在門極電壓為零的情況下,測量集電極和發(fā)射極之間的漏電流ICES。
測量IGES:
在集電極和發(fā)射極之間施加額定電壓。
測量門極和發(fā)射極之間的漏電流IGES。
測量開關(guān)時(shí)間(td(on)和td(off)):
通過快速切換門極電壓,使用示波器觀察集電極電流的變化。
測量開通和關(guān)斷延遲時(shí)間。
4.測試注意事項(xiàng)
測試時(shí)應(yīng)保證環(huán)境溫度穩(wěn)定。
避免在測試過程中造成IGBT的損壞。
所有測試應(yīng)在規(guī)定的測試條件下進(jìn)行,以保證數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
通過上述測試,可以全面了解單管IGBT的靜態(tài)特性,為IGBT的應(yīng)用提供重要的參考數(shù)據(jù)。在測試過程中應(yīng)嚴(yán)格遵循相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
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